電致發光取像系統
曜能科技團隊自2008年開發第一套EL檢測機台，成功捕捉各材料於能階變換時所產生的各波長微光，進而發展出光學與影像套件、單機設備、自動化檢測設備、以及無暗房取像技術。
於標準機型與配置下，三秒內可取得清晰之EL影像，有效縮短產線閒置時間，以提高整體生產效率。
透過專利之機械設計可達到2X之無縫線影像，最多可達4X之取像縫合結果，產速可完全滿足年產50MW之產能要求。廣泛的CCD畫素選擇（140萬～1250萬畫素）可 以滿足太陽能產業之需求，並構成自動光學檢驗（AOI）之資料基礎。
| 型號 | 光學畫素 | 軟體系統 |
| ELCAM-1.4MC | 140萬畫素 | V2, V3 |
| ELCAM-5.0MC | 500萬畫素 | V3 |
| ELCAM-5.5MF | 550萬畫素 | V3 |
| ELCAM-11M | 1100萬畫素 | V3 |
Quick EL V3 軟體系統
除基礎之拍照、即時影像、自動畫質強化、文字overlay、條碼序號存檔、多階使用者密碼之要求外，自主設計之V3系統亦可完整支援PLC自動化連線、以及製造執行系統（MES）規劃。藉由自訂不良代碼（defect code）以及生產工單資訊（work order
info）可有效滿足製程管理與品保統計之需求。
