太陽能組件EL檢測系統- 單機型
單機型採手動入料方式進行測試。
除可測試標準模組外,亦可進行層壓前的組件測試、以及單串string之測試。
於標準6", 6x10模組下,最短工作距離高為900mm。
最短成像時間為三秒鐘。
雖為off-line機種,所有參數資料、工單資料、不良代碼、皆仍可與MES系統做整合與連結。
可選擇的CCD解析度方案有140萬、280萬(雙相機取像)、550萬、1100萬等四種方式。
太陽能組件EL檢測系統- 量產機型
量產in-line型採自動入料、自動通電方式進行測試。
於專利機構設計下,可同時測試層壓前與層壓後之太陽能組件。
最大測試範圍為2000x1400mm,整體測試循環可於30秒內完成。
所有參數資料、工單資料、不良代碼、皆可與CIM, SFC, 或MES系統做整合與連結。
可選擇的CCD解析度方案有140萬、280萬(雙相機取像)、560萬(4次取像)550萬、1100萬等五種方式。
(選配)可與開路電壓測試(Voc test)以及外觀測試(Cosmetic inspection)合併於同一站,以節省測試空間與設備成本。Voc測試可提估Max與Average value兩項供製程單位分析使用。